PP 大庆石化聚丙烯T30S

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薄膜蒸发器的全名是机械搅拌式薄膜蒸发器，又称为旋转式薄膜蒸发器。是一种新型高效的节能降膜蒸发器。它以设备传热系数高(蒸发强度大)、物料停留时间短、适用的粘度范围宽、操作的弹性大等优越的性能，在氯碱、化工、轻工、食品、制药和环保等行业得到广泛的应用。

薄膜厚度的测试方法很多，特点各不相同，大体可以分为光学方法和非光学方法两大类 一、光学方法利用光学原理测量薄膜厚度和光学参数的方法很多，具体如下1.激光 干涉、透射、反射法和光谱反射法激光干涉法要求薄膜试样透明并且厚度要均匀。它利用激光光束通过显微 物镜聚焦在薄膜上，从薄膜上下两表面分别反射回的光在距薄膜一定距离的观 察面上发生干涉，同时被观察面上的CCD接收，利用接收到的干涉图像可以计 算出膜厚。干涉法优点是设计简单、测量计算快违，测量范围在10-100 Mm，但测量结果度不高。透射法要求薄聘半透明并且吸收光，以光在基体内不发生干涉为前提，精度非常高，可达到1-2nm，测量范围在100-1000 nm;缺 点是需要以相同的入射角分别测量基体覆盖薄膜前后的透射率，要求测量次数 很多，并且要经过复杂的公式运算才能算出膜厚。反射法要求薄膜半透明并且 不吸收光；测量范围较大， 一般在10nm-1000 Mm， 一般应用于工业检测。光 谱反射法是在入射光垂直入射表面的情况下测量一定波长范围内的光的反射 率，可以测出薄膜的厚度以及折射率；该方法测量精度高、速度快、对薄膜无 破坏作用，反射光谱的分析计算较复杂，理论性很强。

能对超薄薄膜进行测量(d〈10 nm)。厚度和折射率的重 复性精度可分别达到O.Ol mu和104。该方法的不足之处是影响测量准确度因素很多，如系统的各种误差、环境噪声、样品表面粗糙度、待测薄膜与数学色 散模型的差异等都会影响测量的准确度。特别是当薄膜厚度较小，薄膜折射率与基底折射率相接近(如玻璃基底表面镀Si02膜)，用椭偏仪测得薄膜的厚度和折射率与实际情况有较大的偏差。因此，即使对于同一种样品、使用不同厚 度和折射率范围，不同的入射角和波长都存在不同的测量度。被检测的样 品必须要特别处理以免引起基底的二次反射。另外，椭偏仪需要昂贵的偏振器 件，使用成本较高。

可以测量薄膜材料的厚度，其原 理是在不同入射及衍射角条件下获得材料衍射信息，根据射线吸收效应来确定 薄膜的厚度。利用小角度XRD方法测量纳米薄膜的厚度有很高的精度。