扩大应用在取得波峰信号在一固定比例高度的高度值，然后取得波峰信号在该高度位置的宽度值或取得该波峰信号在该高度位置的截面积，再将上述的高度值除以上述的宽度值或将上述的高度值除以上述的截面积，所得到的数值亦可以表示成薄膜表面的尖锐度。

种薄膜包衣预混辅料，其成分主要包含羟丙基甲基纤维素、聚乙烯吡咯烷酮醋酸乙烯酯共聚物(6∶4)、聚乙烯醇聚乙二醇共聚物、甲基丙烯酸-丙烯酸乙酯共聚物(1∶1)、聚乙二醇、滑石粉以及着色剂。本发明薄膜包衣预混辅料，具有良好的防潮、防裂、适时崩解性能，且以水为溶媒。

因此不能确实的反映出氧化铟锡电极膜表面的起伏状态。换言之，在某些情况之下，Rms与Rp-v并无法真正的反映出薄膜表面的粗糙度。以公知的方法分析，Rms与Rp-v两数值所呈现的结果会是相同的，换言之，以公知方法分析的结果是图1A与图1B两者会具有相同的粗糙度。

此方法首先利用一原子力显微镜(AFM)扫描一薄膜的表面，而取得薄膜表面的一波峰信号。接着，取得此波峰信号在一半高度的一高度值(H)，并且取得此波峰信号在一半高度的一宽度值(D)。之后，将上述的高度值除以上述的宽度值(H/D)，即为薄膜表面的尖锐度。倘若薄膜表面的尖锐度小于一标准值，即表示薄膜表面粗糙度系符合标准。

分析薄膜表面粗糙度的方法系首先扫描一薄膜的表面，以取得一波峰信号(步骤100)取得此波峰信号于一半高度的一高度值(H)(步骤102)。其中，取得此波峰信号于一半高度的高度值(H)的方法可以直接使用原子力电子显微镜既有的一项功能。请参照图3，此波峰信号200的总高度为202，而此波峰信号的一半高度为204，因此此波峰信号于一半高度的高度值(H)指针号204所指的高度值。随后，又取得此波峰信号于一半高度的一宽度值(D)或是一截面积(A)(步骤104)。其中，取得此波峰信号于一半高度的宽度值(D)或是截面积(A)的方法亦可以直接使用原子力电子显微镜既有的一项功能。此波峰信号于一半高度204处的宽度为标号206所指之处，其为此波峰信号于一半高度的宽度值(D)。同样的，此波峰信号于一半高度204处的截面积即为标号206所指之处的截面积，其为此波峰信号于一半高度的截面积(A)。