燕山石化聚丙烯K7726H-GD高抗冲高韧性

所述的分析薄膜表面粗糙度的方法，其特征是，扫描该薄膜表面以取得该薄膜表面的该波峰信号方法包括利用一原子力显微镜。

一种分析薄膜表面粗糙度的方法，其特征是，该方法包括扫描一薄膜表面，以取得该薄膜表面的一波峰信号；取得该波峰信号在一半高度的一高度值；取得该波峰信号在一半高度的一宽度值；将该高度值除以该宽度值，即为该波峰信号的一尖锐度；以及倘若该该波峰信号的该尖锐度小于一标准值，即表示该薄膜表面粗糙度符合标准。

分析薄膜表面粗糙度的方法，其特征是，扫描该薄膜表面以取得该薄膜表面的该波峰信号方法包括利用一原子力显微镜。

一种分析薄膜表面粗糙度的方法，其特征是，该方法包括扫描一薄膜表面，以取得该薄膜表面的一波峰信号；取得该波峰信号在一固定比例高度的一高度值；取得该波峰信号在该固定比例高度位置的一截面积；将该高度值除以该截面积，即为该波峰信号的一尖锐度；以及倘若该该波峰信号的该尖锐度小于一标准值，即表示该薄膜表面粗糙度符合标准。

薄膜表面粗糙度的方法，其特征是，该薄膜包括一氧化铟锡薄膜。

薄膜表面粗糙度的方法，其特征是，扫描该薄膜表面以取得该薄膜表面的该波峰信号方法包括利用一原子力显微镜。

一种分析薄膜表面粗糙度的方法，其特征是，该方法包括扫描一薄膜表面，以取得该薄膜表面的一波峰信号；取得该波峰信号在一半高度的一高度值；取得该波峰信号在一半高度的一截面积；将该高度值除以该截面积，即为该波峰信号的一尖锐度；以及倘若该该波峰信号的该尖锐度小于一标准值，即表示该薄膜表面粗糙度符合标准。