LLDPE中天合创聚乙烯EGF-35B

在所得陶瓷 层/剥离薄膜复合体的陶瓷层表面，通过丝网印刷法形成金属膜形式的、干燥后的厚度为 3μπι的图案化的M电极印刷层。接着，将所得金属膜/陶瓷层/脱模薄膜复合体切裁为 300mmX300mm的大小，得到单片样品。对于所得单片样品，以20m/分钟的剥离速度从脱模 薄膜上剥离金属膜/陶瓷层复合体，测定所述剥离中的剥离静电量。在剥离的金属膜/陶 瓷层复合体上的距离陶瓷层的表面5cm的位置设置集中电位测定仪(春日电机(株)制 造，商品名静电电位测定仪SV-10)，在温度22°C、湿度44% RH的气氛下测定剥离静电量。 测定是对100片单片样品进行实施，将它们的平均值作为陶瓷片的剥离静电量(单位kV)。 或者按照下述评价基准实施评价。[陶瓷片剥离静电评价基准]〇剥离静电量为20kV以下(剥离静电良好)X 剥离静电量超过20kV(剥离静电不良)(8)陶瓷片的剥离评价对于上述(7)中的单片样品，在从脱模薄膜上剥离金属膜/陶瓷层复合体时，按照 下述评价基准对所述的剥离状况实施评价。[剥离评价基准]◎剥离力适度，金属膜/陶瓷层没有断裂，脱模薄膜上未见陶瓷层的残留(实际 应用上完全没有问题的水平)〇剥离力稍重，或者是金属膜/陶瓷层上可见一些破裂，或者脱模薄膜上稍微可见陶瓷层的残留(实际应用上完全没有问题的水平)X 剥离力过重，或者金属膜/陶瓷层上可见破裂，或者脱模薄膜上可见陶瓷层的 残留(实际应用上有问题的水平)(9-1)陶瓷片的积层评价1 (实际应用特性代替评价)在由上述(5)(条件1)得到的陶瓷片上积层图案印刷的Ni电极印刷层(干燥后 的厚度为3 μ m)。

使用所得陶瓷片/电极积层体，以一侧的端部为基准积层10层，按照下述 评价基准对此时的电极印刷层的位置偏离程度实施位置偏离评价。[位置偏离评价基准]◎位置偏离低于200 μ m(实际应用上完全没有问题的水平)〇位置偏离200 μ m以上但低于400 μ m(实际应用上没有问题的水平)X 位置偏离400 μ m以上(实际应用上有问题的水平)(9-2)陶瓷片的积层评价2 (实际应用特性代替评价)使用通过C⑶照相机检测位置的方式的叠层机夕” W H、乂 )，将按照与 上述(7)同样的方法得到的切裁以及剥离后的金属膜/陶瓷层复合体积层10层，得到积层 体。对于所得积层体，以第1层的金属膜/陶瓷层复合体为基准，使用显微镜测定各层的偏 离量，将所得值作为位置偏离(单位ym)。评价是按照下述评价基准实施的。积层是在剥 离脱模薄膜后立即实施。[位置偏离评价基准]◎位置偏离低于200 μ m(实际应用上完全没有问题的水平)〇位置偏离200 μ m以上但低于400 μ m(实际应用上没有问题的水平)X 位置偏离400 μ m以上(实际应用上有问题的水平)(10)卷表层的维式硬度(Hv)按照JIS Z2244(1961)的方法，通过以下方法进行测定。测定是在实施例得到的 脱模薄膜卷的表层，除去距离端面5mm的部分，在宽度方向上测定10点，以大值作为卷表 层的维式硬度(Hv)。(11)卷绕偏离对于实施例所得的脱模薄膜卷，按照下述评价基准评价端面的卷绕偏离状况。[卷绕偏离评价基准]◎卷绕偏离为Imm以下(完全没有问题，可优选使用的水平)〇卷绕偏离超过Imm但为2mm以下(可没有问题地使用的水平)Δ 卷绕偏离超过2mm但为3mm以下(稍有问题但可以使用的水平)X 卷绕偏离超过3mm(有问题，无法使用的水平)(12)平坦性由脱模薄膜卷中取长度2m的薄膜样品，将卷绕在卷上时为卷的表面的一侧朝上， 在平坦的台面上水平铺开。静置10分钟后观察薄膜样品的整个表面，测量残留在该表面上 的皱纹(凹槽，薄膜从上述台面上翘起的部分)的长度(单位cm)，将其合计除以测定面积 (单位m2)，计算平坦度(单位cm/m2)。 由所得数据记录分别读取纵向、横向的大厚度(单位μπι)和小厚度(单位ym)，结 合上述薄膜厚度，由下述式求出厚度偏差(单位％ )。厚度偏差(％)=((大厚度-小厚度)/薄膜厚度)X 100(14)陶瓷片的厚度偏差对于由上述(5)(条件2)所得的陶瓷层/脱模薄膜复合体，使用测微计(7 > 1J ,(株)制备，商品名“K-402B”型)测定厚度，接着将测定了厚度的位置的陶瓷层完全剥 离，在同一位置再次测定厚度，将它们差作为陶瓷片的厚度求出。所述操作是在纵向上以Im 间隔选取10点，以Icm间隔将所述纵向10点的测定沿横向分成10列，全部共实施100点 测定，将所得100点的陶瓷片的厚度的平均值作为陶瓷片厚度(单位ym)。接着，在上述 100点的测定中，以大的作为大厚度(单位μ m)、小的作为小厚度(单位ym)， 由下述式求出厚度偏差(单位％)。厚度偏差(％)=((大厚度-小厚度)/陶瓷片厚度)X 100评价按照下述的评价基准实施。[厚度偏差评价基准]◎厚度偏差为2.0%以下(厚度偏差非常优异，实际应用上完全没有问题的水 平)〇厚度偏差超过2.0%但为3.0%以下(厚度偏差优异，实际应用上没有问题的 水平)X 厚度偏超过3.0% (厚度偏差较差，实际应用上有问题的水平)实施例1[聚酯的制备]向100份对苯二甲酸二甲酯和70份乙二醇的混合物中添加作为酯交换催化剂的 乙酸锰4水合物，使所得聚酯中的锰的元素量为80ppm，一边将内部温度由150°C缓慢升高 一边进行酯交换反应。酯交换反应达到95%时添加0. 01份作为稳定剂的亚磷酸，充分搅拌 后添加0. 03份三氧化锑。接着将混入到体系内的水充分馏出，然后添加平均粒径0. 6μ m 的合成碳酸钙颗粒作为内部填料(滑动剂)，使其相对于所得聚酯的质量为0.2% (质量)， 充分搅拌。接着将反应产物转移到聚合反应器中，在高温真空下(终内部温度为295°C) 进行缩聚，得到特性粘度为0. 65(35°C，邻氯苯酚中)的聚对苯二甲酸乙二醇酯组合物。

固形成分重量为5% (质量)。[未拉伸聚酯薄膜成型步骤]将上述所得聚对苯二甲酸乙二醇酯组合物在170°C下干燥5小时，使聚合物的含 湿率为0.05% (质量)。接着将干燥的聚对苯二甲酸乙二醇酯组合物供给挤出机，在熔融 温度280 300°C下熔融，使用平均网孔Ilym的钢线滤器进行高精度过滤，然后使用挤出 模头、通过静电粘附法与冷却转鼓接触骤冷，获得厚度450 μ m的未拉伸聚酯薄膜。[一次拉伸步骤]将所得未拉伸聚酯薄膜在75°C下预热，接着在低速、高速辊之间、在薄膜温度 105°C下沿长度方向拉伸至3. 6倍，然后骤冷，由此得到长度方向(纵向)拉伸聚酯薄膜。