HDPE齐鲁石化聚乙烯R335HL

高效率、低成本的新型有机-无机杂化钙钛矿太阳电池由于其优异的光电性能而引起广泛关注；但其材料光吸收层及器件空穴传输层中的有机成分易挥发、易吸潮，并产生严重的热稳定性问题，限制了该新型电池的实际应用。如：mapbi3的有机阳离子与晶格结合弱，在85℃便开始分解，在55℃还会发生四方到立方相变；fapbi3虽在干燥环境下稳定，但却极易与湿气反应，导致性能迅速惰化；而传统空穴传输层spiro-ometad不但价格昂贵，而且lifsfi、4-tbp等添加物易吸潮，更会直接破坏钙钛矿层。因此如何避免有机成分，从而提高钙钛矿电池的长期稳定性已成为制约其继续发展的瓶颈问题。

而新型无机钙钛矿材料cspbi3由于具有优异的光电性能和更好的热稳定性而引起研究者的浓厚兴趣。但cspbi3在室温大气条件下却易发生相变，易从光电性能优良的钙钛矿黑色立方α相转变成几乎没有光电性能的非钙钛矿黄色斜方δ相。从晶体结构出发，cs+半径仅为cspbi3的间隙容许因子t仅为0.8，cs+支撑不起12个i-构筑的过大“笼子”，因而易出现晶格扭曲并发生相变。而采用半径更小的br-对其进行同族卤素取代，可收缩晶格、抑制相变、提高钙钛矿材料的稳定性，进而得到更为稳定的无机钙钛矿材料cspbbr3。

而传统的溶液法制备工艺却限制了该无机钙钛矿材料的进一步发展。由于溴化物在常规溶剂如dmf或dmso中的溶解度有限，因而采用一步法难以制备出br含量高的钙钛矿材料，同时薄膜通常非常薄，难以达到器件级光吸收层要求；而采用二步浸泡的方法可以制备出cspbbr3薄膜，但浸泡过程易使薄膜附着力下降，导致薄膜易脱落，也难以制备出符合器件要求的高质量光吸收层。因此，亟待开发出新型的cspbbr3光吸收层薄膜制备工艺，以推动无机钙钛矿电池的发展及应用。

测试薄膜wvtr的方法主要有库仑电量法和放射性同位素示踪法。库仑电量法是利用库仑电量传感器进行检测，其测试精度为5×10－5g·m－2·d－1。放射性同位素示踪法的测量精度为2×10－7g·m－2·d－1，这种方法测试费用昂贵，采用的放射性物质有一定危险性，对设备和实验室条件要求比较苛刻，同时涉及到的实验参数多，难以控制。

提供一种快速、简单、精度高的薄膜水汽透过率的测试方法。n为25℃温度下水汽透过特征系数，n＝2.556*10-5m2/s；m(h2o)为水的摩尔质量，m(ca)为钙的摩尔质量，δ为钙电阻率，ρ为钙密度，l为钙薄膜层的长度，w为钙薄膜层的宽度。

当所述钙薄膜层腐蚀断开时，所述上位机接收到指令，关闭对所述钙薄膜层采样，并对获得的测试数据进行储存，完成测试。

本发明是基于钙电学测量法的水汽透过率测试方法，相较于现有使用的库仑电量法和放射性同位素示踪法，精度可以达到1×10－6g·m－2·d－1，具有快速、简单、精度高等优点，适用于oled显示器件的薄膜水汽透过率的测试。

采用真空蒸发设备在基板上蒸镀钙薄膜层。在本实施例中，钙薄膜层的厚度为20-1000nm，可优选200nm。基板优选为玻璃基板。

在保护气体下，通过原子层沉积方法在基板上沉积封装薄膜层，封装薄膜层覆盖钙薄膜层，获得待测薄膜器件。

待测薄膜器件具有三层结构，分别是基板、钙薄膜层和封装薄膜层。

本实施例中，保护气体为氮气。在氮气保护下，将蒸镀有钙薄膜层的基板转移到原子层沉积设备中；使用金属有机化合物和水作为前驱体，沉积封装薄膜层。封装薄膜层厚度可为20-1000nm，优选200nm。

金属有机化合物包括三甲基铝，将其和水作为前驱体，在钙薄膜层上沉积al2o3封装薄膜层。

s3、采用开尔文四探针法对步骤s2获得的所述待测薄膜器件进行测试，获得待测薄膜器件中钙薄膜层的随时间t变化的电导率曲线(t-1/r曲线，横坐标为时间t，纵坐标为电导率1/r)，提取曲线线性部分的斜率：d(1/r)/dt，代入下式，得到待测薄膜器件的薄膜水汽透过率ηwvtr：

n为测试25℃温度下水汽透过特征系数，n＝2.556×10-5m2/s；m(h2o)为水的摩尔质量，m(ca)为钙的摩尔质量，δ为钙电阻率，ρ为钙密度，l为钙薄膜层的长度，w为钙薄膜层的宽度。由上式可知，薄膜水汽透过率ηwvtr正比于d(1/r)/dt。

本发明中，将钙薄膜层作为测试传感器，测量其电阻与时间的变化率，以算出封装薄膜的水汽透过率。

水汽透过率是表征封装薄膜对水汽阻挡效果的物理量，其定义是在一定的温度和湿度环境下，单位面积和时间内透过封装薄膜的水汽质量。瞬态水汽透过率(从测试开始到某个指定时间点t的时间段内，透过面积封装薄膜的总水汽质量)可表示为：

在一定的测试环境中，经过吸收和扩散过程，水分子在固体膜中的渗透达到稳定，即ηwvtr达到稳定状态。稳定状态下的ηwvtr是研究封装薄膜水汽阻挡性能的主要参数。

开尔文四探针装置的测试探针输出一根测试信号线，安插在转接板上。开尔文四探针每个测试探针点都有一条激励线和一条检测线，各自构成独立的检测线回路。在检测线回路中，设置极高的输入阻抗(10gω以上)，使流过检测线的电流近似为0，保证测试精度。此外，通过具有双探针的测试夹具，保证测试过程中有良好的欧姆接触，消除了测试初期电阻值的反常跳动，提高了测试的稳定性和准确性。